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試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)絕緣電阻很低、泄露電流不合格，介質(zhì)損耗卻合格的原因

作者：恒電高測(cè) 發(fā)布時(shí)間：2021-05-27
? ? ? ?絕緣電阻很低、泄露電流很大的不合格設(shè)備，一般表面被試品的并聯(lián)支路中，某一支路絕緣電阻較低，而介質(zhì)損耗因素試驗(yàn)值是并聯(lián)等值電路值，總是介于并聯(lián)電路中各支路大與小值之間，且更接近于體積較大或電容較大部分的值，只有當(dāng)絕緣狀況較差的部分占總體積很大時(shí)，實(shí)測(cè)介質(zhì)損耗因素值才會(huì)體現(xiàn)得比較明顯，而若是所占體積比較小時(shí)，測(cè)得的介質(zhì)損耗因素值可能仍在合格范圍內(nèi)，特別是對(duì)大型變壓器等設(shè)備尤其如此，因此要綜合分析，避免錯(cuò)誤判斷。

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